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J-GLOBAL ID:201002287184461951   整理番号:10A1125013

大型ヘリカル装置におけるマイクロ波画像化反射測定のための4の異なる周波数の同時投射及び検出システム

Simultaneous projection and detection system of four different frequencies for microwave imaging reflectometry in Large Helical Device
著者 (8件):
資料名:
巻: 81  号: 10  ページ: 10D915  発行年: 2010年10月 
JST資料番号: D0517A  ISSN: 0034-6748  CODEN: RSINAK  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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マイクロ波画像化反射測定(MIR)用の,4の異なる周波数の同時投射/検出システムを,大型ヘリカル装置(LHD)での電子密度ゆらぎの三次元観測のために開発した。60.410,61.808,63.008及び64.610GHzの四周波数成分を持つマイクロ波を,ターゲットLHDプラズマを照射するために連続波モードで投射する。二次元ホーンアンテナミキサアレイ(2D HMA)は,プラズマからの反射波,及び55.800GHzで運転する局部発振器からの波を受信する。4.610,6.008,7.208及び8.810GHzにおける,第一中間周波数(IF)信号を得たことを確認した。これらのマイクロ波の,2D HMAを用いるダウンコンバージョンによった。これらの第一IF成分のおのおのは,互いからフィルタされ,スーパヘテロダイン検波のために再びダウンコンバートされる。検波した信号の振幅と位相の両方が,LHDプラズマにおけるゆらぎを反映することを確認した。(翻訳著者抄録)
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