特許
J-GLOBAL ID:201003001059325780

低容積で静的錯乱光および動的錯乱光を測定するための装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-513791
公開番号(公開出願番号):特表2010-532468
出願日: 2008年07月04日
公開日(公表日): 2010年10月07日
要約:
本発明は、散乱光を測定するための装置に関し、装置は、試料に焦点を合わせることのできる電磁放射を備えた少なくとも一つの集束要素と、検出器と、試料により散乱された電磁放射を検出器に導くことができる検出器光学システムを備える。装置は、環状ビームを形成する手段を備え、その環状ビームは、少なくとも一つの集束要素によって試料内の焦点に焦点を合わせることができる。試料により散乱された電磁放射は、環状ビームに囲まれた領域内で拡散し、検出光学システムにより検出することができる。
請求項(抜粋):
電磁放射(3)の焦点を試料(11)に合わせることができる少なくとも一つの集束要素(4)と、 検出器(9)と、 試料(11)により散乱した電磁放射(15)を前記検出器(9)まで導くことができる検出光学システム(5,7,8)と、 を備える散乱光を測定する装置であって、 環状ビーム(3)を生成する手段(2)を備え、前記少なくとも一つの集束要素(4)が前記環状ビーム(3)の焦点を試料(11)内の焦点(12)に合わせることができ、前記検出光学システム(5,7,8)が環状ビーム(3)により囲まれた空間内を伝播する試料(11)によって散乱した電磁放射(16)を検出することができることを特徴とする装置。
IPC (1件):
G01N 21/27
FI (1件):
G01N21/27 B
Fターム (13件):
2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ14 ,  2G059KK02
引用特許:
審査官引用 (7件)
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