特許
J-GLOBAL ID：201003012756340535

欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器を用いた画像生成方法、放射線画像検出器、及び放射線画像生成システム

発明者：
米川 久

米川 久 について


出願人/特許権者：
コニカミノルタエムジー株式会社

コニカミノルタエムジー株式会社 について


代理人 (1件)： 荒船 博司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-243593
公開番号（公開出願番号）：特開2010-075219
出願日： 2008年09月24日
公開日（公表日）： 2010年04月08日
要約：
【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定し登録することが可能な欠陥画素判定方法を提供する。【解決手段】欠陥画素判定方法は、放射線を2次元状に配置された複数の放射線検出素子(x,y)で電気信号に変換して実写画像データF(x,y)を生成し、画素ごとの特性ばらつきを補正して最終的な画像データFO(x,y)を生成する放射線画像検出器1における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取において得られた、一の放射線検出素子(x,y)から出力されたダーク読取値dm(x,y)の複数回分の時間的統計値σd(x,y)について予め設定された閾値σdthに基づいて、当該一の放射線検出素子(x,y)が欠陥画素(xs,ys)であるか否かを判定する。【選択図】図20
請求項（抜粋）：
被写体を透過した放射線を放射線画像検出器の2次元状に配置された複数の放射線検出素子で画素単位の電気信号に変換して実写画像データを生成し、生成された前記実写画像データに対して画素ごとの特性ばらつきを補正して最終的な画像データを生成する放射線画像検出器における欠陥画素判定方法であって、 キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取において得られた、一の前記放射線検出素子から出力されたダーク読取値に関連する値の前記複数回分の時間的統計値について予め設定された閾値に基づいて、当該一の放射線検出素子が欠陥画素であるか否かを判定することを特徴とする欠陥画素判定方法。
IPC (4件)：
A61B 6/00 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/335 ,  H01L 27/14
FI (5件)：
A61B6/00 350Z ,  H04N5/32 ,  H04N5/335 P ,  H01L27/14 Z ,  H01L27/14 K
Fターム (31件)：
4C093AA01 ,  4C093CA50 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC19 ,  4C093FC22 ,  4C093FD03 ,  4C093FD09 ,  4C093FF19 ,  4C093FF34 ,  4C093FH02 ,  4C093FH06 ,  4M118AA07 ,  4M118AB01 ,  4M118BA05 ,  4M118CA02 ,  4M118CB05 ,  4M118CB11 ,  4M118DD09 ,  4M118DD10 ,  4M118FB09 ,  4M118FB13 ,  4M118GA10 ,  5C024AX11 ,  5C024CX03 ,  5C024CX21 ,  5C024CX27 ,  5C024CX31 ,  5C024GX03 ,  5C024GX09
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (4件)
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