特許
J-GLOBAL ID：201003017959161476
光断層画像表示システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
岡本 宜喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-069632
公開番号（公開出願番号）：特開2010-223670
出願日： 2009年03月23日
公開日（公表日）： 2010年10月07日
要約：
【課題】光断層画像表示システムにおいて、高精度で断層画像を表示システムの提供。【解決手段】周波数領域の光断層画像表示システムにおいて、干渉光の周波数分析を行い、光断層画像を得る。このとき干渉信号を解析対象信号として解析対象信号と、周波数f’及び初期位相φ’を用いた位相と振幅A’とによって表される正弦波モデル信号との差の二乗和が最小値になるように周波数f’、振幅A’、初期位相φ’を求め、その解析結果により、断層画像を表示する。これにより高精度の光断層画像を得ることができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
周期的に光の発振波長を走査する波長走査型光源と、
前記波長走査型光源からの光を参照光と物体への照射光とに分岐し、物体からの反射光と参照光との干渉光を発生する干渉光学計と、
前記干渉光学計より得られる干渉光を受光し、ビート信号を得る受光素子と、
前記受光素子から得られる干渉信号に対して周波数解析を行い、物体の断層画像を形成する信号解析部と、を具備し、
前記信号解析部は、
前記受光素子から得られる干渉信号を解析対象信号として保持する記憶部と、
前記記憶部に記憶された前記解析対象信号を読み出し、前記解析対象信号と、周波数f’及び初期位相φ’を用いた位相と振幅A’とによって表される正弦波モデル信号との差の二乗和が最小値になるような前記周波数f’、前記振幅A’、及び前記初期位相φ’を算出し、求めた前記周波数f’、前記振幅A’、及び前記初期位相φ’に基づき断面画像を出力する演算手段と、
前記演算手段より得られる断面画像を表示する表示部と、を具備する光断層画像表示システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/17 620
, G01N21/39
2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG09
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM10
