特許
J-GLOBAL ID:201003028055834723

意匠確認装置、意匠確認方法、およびプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井上 誠一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-212306
公開番号(公開出願番号):特開2010-048634
出願日: 2008年08月21日
公開日(公表日): 2010年03月04日
要約:
【課題】特定の方向からのみ見える意匠癖を確認することを支援する意匠確認装置等を提供する。【解決手段】意匠確認装置1は、光源方向・視点方向設定手段21により、媒体表面に対する光源方向と視点方向を設定し、媒体表面のハイトフィールドデータ29、光源方向・視点方向設定手段21により設定された光源方向、視点方向を用いて、輝度値算出手段23が全画素の輝度データ31を算出する。投影変換手段25は、輝度データ31を媒体の鉛直方向に投影変換し、各画素のxy座標の輝度データ31を算出し、画像出力手段27は、算出した輝度データ31を画像に変換して出力する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
表面に凹凸模様を有する媒体のハイトフィールドを用いて、媒体の意匠を確認することを支援する意匠確認装置であって、 前記媒体に対する光源方向、視点方向を設定する光源方向・視点方向設定手段と、 前記ハイトフィールド、前記光源方向、前記視点方向を用いて、各画素の輝度値を算出する輝度値算出手段と、 前記輝度値を、前記媒体の鉛直方向に投影変換する投影変換手段と、 前記投影変換した輝度値を正規化し、画像として出力する画像出力手段と、 を具備することを特徴とする意匠確認装置。
IPC (1件):
G01B 11/24
FI (2件):
G01B11/24 K ,  G01B11/24 F
Fターム (12件):
2F065AA56 ,  2F065BB02 ,  2F065EE00 ,  2F065FF42 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ42
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (12件)
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