特許
J-GLOBAL ID:201003035686120761
撮像素子および撮像装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
丸島 敏一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-002327
公開番号(公開出願番号):特開2010-160314
出願日: 2009年01月08日
公開日(公表日): 2010年07月22日
要約:
【課題】異なった方向についての位相差検出方式の焦点検出を精度良く簡易に行えるとともに、画素の微細化が進んでも良好な製造が可能な位相差検出機能付き撮像素子の技術を提供する。【解決手段】撮像素子には、射出瞳の上側部分Qa1および下側部分Qb2を通過した光束Ta1、Tb2を一対のマイクロレンズML1、ML2を介して受光する一対の光電変換部PD1、PD2を備えて垂直方向(Y方向)に係る位相差AFを実現するAFセンサ部11fが垂直方向に配列されたAF垂直ラインLfが設けられている。このAF垂直ラインLfでは、一対の光電変換部PD1、PD2に挟まれた光電変換部PDmが、水平方向(X方向)に係る位相差AFを実現するAF水平ラインとの交差箇所に配置される。これにより、撮像素子において異なった方向(垂直・水平方向)についての位相差AFを精度良く簡易に行え、画素の微細化が進んでも良好な製造が可能となる。【選択図】図9
請求項(抜粋):
所定の間隙を保ちつつ第1方向に光電変換部を配列した第1方向の配列が前記第1方向と直交する第2方向に複数設けられて光電変換部のマトリクス配置が形成された受光部と、
前記受光部の上方に設けられた複数のマイクロレンズと、
を備えており、
前記光電変換部のマトリクス配置における特定の第1方向の配列には、撮影光学系の射出瞳において前記第1方向に沿って互いに逆向きに偏った一対の部分領域を通過した被写体光束を一対のマイクロレンズを介して受光する一対の第1光電変換部が設けられるとともに、
前記光電変換部のマトリクス配置における特定の第2方向の配列には、前記射出瞳において前記第2方向に沿って互いに逆向きに偏った一対の部分領域を通過した被写体光束を受光する一対の第2光電変換部が設けられ、
前記一対のマイクロレンズは、それぞれの光軸が前記一対の第1光電変換部において互いに前記第1方向について最遠となる各縁部の近傍を通るように配置されており、
前記一対の第1光電変換部は、前記特定の第1方向の配列において1の光電変換部を挟んで隣り合う2の光電変換部であるとともに、
前記特定の第1方向の配列と前記特定の第2方向の配列とが交差する箇所には、前記1の光電変換部が配置されている撮像素子。
IPC (7件):
G02B 7/34
, G02B 7/28
, G03B 13/36
, H04N 5/335
, H04N 5/232
, H01L 27/14
, H01L 27/146
FI (8件):
G02B7/11 C
, G02B7/11 N
, G03B3/00 A
, H04N5/335 U
, H04N5/335 V
, H04N5/232 H
, H01L27/14 D
, H01L27/14 A
Fターム (36件):
2H011AA01
, 2H011BA23
, 2H011BB02
, 2H011BB03
, 2H051BA06
, 2H051CB20
, 2H051CB24
, 2H151BA06
, 2H151CB20
, 2H151CB24
, 4M118AA10
, 4M118AB01
, 4M118BA14
, 4M118CA02
, 4M118FA06
, 4M118GB11
, 4M118GB13
, 4M118GC08
, 4M118GC14
, 4M118GD04
, 5C024AX01
, 5C024BX01
, 5C024CY17
, 5C024CY47
, 5C024DX01
, 5C024EX12
, 5C024EX43
, 5C024EX52
, 5C122DA04
, 5C122EA37
, 5C122EA53
, 5C122EA55
, 5C122FB16
, 5C122FC06
, 5C122FD07
, 5C122HB06
引用特許:
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