特許
J-GLOBAL ID：201003042151698795

メモリ制御システム、メモリ制御方法、メモリ制御プログラム及び記録媒体

発明者：
都筑 洋平

都筑 洋平 について

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山田 直行

山田 直行 について

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関根 邦夫

関根 邦夫 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-003384
公開番号（公開出願番号）：特開2010-160724
出願日： 2009年01月09日
公開日（公表日）： 2010年07月22日
要約：
【課題】メモリ動作を決定する複数のパラメータを適切な値に調整する。【解決手段】複数のパラメータが取り得る値の複数の組み合わせを管理するパラメータ管理部11aと、パラメータ管理部11aによって管理されている複数の組み合わせを複数のパラメータに順次設定するパラメータ設定部11dと、パラメータ設定部11dによって複数の組み合わせが複数のパラメータに順次設定される都度、メモリ2とメモリコントローラ12との間のメモリ動作の試験を行い、その試験の判定結果を蓄積するパラメータ試験部11bと、パラメータ試験部11bに蓄積された試験の判定結果に基づいて、複数の組み合わせの中の1組を決定するパラメータ決定部11cと、を備え、パラメータ設定部11dは、パラメータ決定部11cによって決定された複数の組み合わせの中の1組を複数のパラメータに設定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
メモリとメモリコントローラとの間のメモリ動作を決定する複数のパラメータが取り得る値の複数の組み合わせを管理するパラメータ管理手段と、 前記パラメータ管理手段によって管理されている前記複数の組み合わせを前記複数のパラメータに順次設定するパラメータ設定手段と、 前記パラメータ設定手段によって前記複数の組み合わせが前記複数のパラメータに順次設定される都度、前記メモリと前記メモリコントローラとの間のメモリ動作の試験を行い、その試験の判定結果を蓄積するパラメータ試験手段と、 前記パラメータ試験手段に蓄積された試験の判定結果に基づいて、前記複数の組み合わせの中の1組を決定するパラメータ決定手段と、 を備え、 前記パラメータ設定手段は、前記パラメータ決定手段によって決定された前記複数の組み合わせの中の1組を前記複数のパラメータに設定すること を特徴とするメモリ制御システム。
IPC (2件)：
G06F 12/00 ,  G06F 12/16
FI (4件)：
G06F12/00 564A ,  G06F12/00 597D ,  G06F12/16 330C ,  G06F12/00 564D
Fターム (4件)：
5B018GA03 ,  5B018NA02 ,  5B018QA11 ,  5B060CC01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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