特許
J-GLOBAL ID：201003042849719751

噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法

発明者：
高野 頌

高野 頌 について

, 
西田 潤一

西田 潤一 について

, 
楠澤 英夫

楠澤 英夫 について


出願人/特許権者：
学校法人同志社

学校法人同志社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人三枝国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-028421
公開番号（公開出願番号）：特開2010-185691
出願日： 2009年02月10日
公開日（公表日）： 2010年08月26日
要約：
【課題】噴霧粒子を撮像し、画像処理を行い、粒子径および粒度速度を同時に測定する噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法を提供すること。【解決手段】噴霧粒子撮像解析システムは、噴霧粒子の集合(M)に光を照射する光源部(1、2)と、噴霧粒子の前記集合を所定の時間間隔で撮像する撮像部(3、4)と、撮像部によって撮像された画像を記録する記録部と、制御部(8)とを備え、制御部が、画像から粒子を検出し、粒子の粒子径及び円形度を求め、円形度が所定のしきい値以上である粒子を焦点深度内の粒子の候補として選択し、連続測定した2枚の画像の相互相関から平均速度を求め、連続測定した2枚の画像における全粒子の組み合わせについて粒子速度を求め、粒子速度と平均速度の方向が一致し、粒子径が一致し、且つ、粒子速度が平均速度に対して所定範囲内にある粒子を対応する粒子として決定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
噴霧粒子の粒子径および速度を測定するシステムであって、 前記噴霧粒子の集合に光を照射する光源部と、 前記噴霧粒子の前記集合を所定の時間間隔で撮像する撮像部と、 前記撮像部によって撮像された画像を記録する記録部と、 制御部とを備え、 前記制御部が、 前記画像から粒子を検出し、該粒子の粒子径と、該粒子径を直径とする円周の長さで該粒子の輪郭線の長さを除した値である円形度とを求め、 前記円形度が所定のしきい値以上である粒子を目的候補粒子として選択し、 連続して測定した第1画像および第2画像において対応する2つの目的候補粒子を検出し、第1画像中の目的候補粒子を第1目的粒子として決定し、第2画像中の目的候補粒子を第2目的粒子として決定し、 前記第1画像および前記第2画像の相互相関を計算し、得られた複数の相互相関値の最大値を平均速度として決定し、 複数の前記第1目的粒子および複数の前記第2目的粒子の組み合わせの全てについて、粒子速度を計算し、 前記粒子速度の方向が前記平均速度の方向と第1の所定範囲内で一致し、前記粒子径が第2の所定範囲内で一致し、且つ、前記粒子速度が前記平均速度に対して第3の所定範囲内にある前記第1目的粒子および前記第2目的粒子を、対応する粒子として決定することを特徴とする噴霧粒子撮像解析システム。
IPC (3件)：
G01N 15/00 ,  G01N 15/02 ,  G01B 11/08
FI (3件)：
G01N15/00 A ,  G01N15/02 B ,  G01B11/08 H
Fターム (22件)：
2F065AA26 ,  2F065AA48 ,  2F065BB07 ,  2F065BB15 ,  2F065FF04 ,  2F065GG04 ,  2F065GG11 ,  2F065GG23 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065LL32 ,  2F065MM02 ,  2F065NN01 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ32 ,  2F065RR09
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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