原因物理量推定方法および装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：有近紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-235943
公開番号（公開出願番号）：特開2010-071654
出願日： 2008年09月16日
公開日（公表日）： 2010年04月02日
要約：

【課題】煩雑な演算を要さずに、結果物理量yから原因物理量xを推定する。【解決手段】原因物理量xに依存する結果物理量yを与える順方向関数y=f(x)および結果物理量yを基に近似原因物理量x’を推定する近似逆方向関数x’=g’(y)が既知であり、iを2以上の整数とするとき、測定により得られた結果物理量yに対して x’=g’(y) x1=2・x’-g’(f(x’)) xi=x’+xi-1-g’(f(xi-1))により第i推定原因物理量xiを求める。【効果】順方向関数y=f(x)の逆関数x=g(y)を用いるのではなく、近似逆方向関数x’=g’(y)を用いるので、煩雑な演算を要さずに、結果物理量yから原因物理量xを推定することが出来る。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

原因物理量xに依存する結果物理量yを与える順方向関数y=f(x)および結果物理量yを基に近似原因物理量x’を推定する近似逆方向関数x’=g’(y)が既知であるとき、測定により得られた結果物理量yに対して x’=g’(y) x1=2・x’-g’(f(x’)) により第1推定原因物理量x1を求めることを特徴とする原因物理量推定方法。

IPC (2件)：

G01B 7/00 , G01D 5/12

FI (2件)：

G01B7/00 103M , G01D5/12 G

Fターム (9件)：

2F063AA04 , 2F063DA01 , 2F063DA05 , 2F063DD04 , 2F063GA01 , 2F063LA00 , 2F077CC02 , 2F077JJ06 , 2F077TT00

引用特許：

出願人引用 (1件)

特許第3571675号公報([0086]〜[0089])

審査官引用 (6件)

特開平2-012472
磁力計データの空間的および時間的処理を使用した磁気ダイポールの位置決定方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-050659 出願人：エイチイー・ホールディングス・インコーポレーテッド・ディービーエー・ヒューズ・エレクトロニクス
位置推定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-315024 出願人：オリンパス光学工業株式会社

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