特許
J-GLOBAL ID:201003063760366704

撮像装置及びその制御方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 國分 孝悦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-105602
公開番号(公開出願番号):特開2010-256138
出願日: 2009年04月23日
公開日(公表日): 2010年11月11日
要約:
【課題】撮像対象との距離を表す距離画像を生成する際に、撮像対象の光反射やその光沢などの外乱、測定原理等に起因する距離の誤差の低減を実現する。【解決手段】撮像対象との距離を計測するための画像を撮像する第1の撮像手段110と、第1の撮像手段110で撮像された画像に基づくデータを用いて撮像対象までの距離を算出する距離算出手段130と、偏光成分を計測するための画像を撮像する第2の撮像手段122と、第2の撮像手段122で撮像された画像に基づくデータを用いて偏光状態の解析処理を行う偏光解析手段140と、距離算出手段130で算出された距離に係る距離情報103及び偏光解析手段140で解析処理された偏光状態に係る偏光解析情報105に基づいて、撮像対象の距離画像106を生成する距離画像生成手段150を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
撮像対象との距離を計測するための画像を撮像する第1の撮像手段と、 前記第1の撮像手段で撮像された画像に基づくデータを用いて、前記撮像対象までの距離を算出する距離算出手段と、 偏光成分を計測するための画像を撮像する第2の撮像手段と、 前記第2の撮像手段で撮像された画像に基づくデータを用いて、偏光状態の解析処理を行う偏光解析手段と、 前記距離算出手段で算出された距離に係る距離情報と、前記偏光解析手段で解析処理された偏光状態に係る偏光解析情報とに基づいて、前記撮像対象の距離画像を生成する距離画像生成手段と を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (9件):
G01C 3/06 ,  G03B 35/08 ,  H04N 5/232 ,  G02B 7/34 ,  G02B 7/40 ,  G02B 7/28 ,  G02B 5/30 ,  G02B 27/28 ,  G01B 11/24
FI (10件):
G01C3/06 120W ,  G03B35/08 ,  H04N5/232 A ,  G02B7/11 C ,  G02B7/11 F ,  G02B7/11 N ,  G02B5/30 ,  G02B27/28 Z ,  G01B11/24 K ,  G01C3/06 140
Fターム (72件):
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065DD04 ,  2F065DD12 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065FF12 ,  2F065FF13 ,  2F065FF32 ,  2F065FF50 ,  2F065HH07 ,  2F065HH08 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL22 ,  2F065LL33 ,  2F065LL37 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  2F112AA09 ,  2F112AC06 ,  2F112AD01 ,  2F112BA07 ,  2F112CA08 ,  2F112CA12 ,  2F112CA20 ,  2F112DA10 ,  2F112DA17 ,  2F112DA19 ,  2F112DA28 ,  2F112EA03 ,  2F112EA05 ,  2F112EA07 ,  2F112FA03 ,  2F112FA35 ,  2F112FA38 ,  2F112GA01 ,  2H051BB27 ,  2H051CB08 ,  2H051CB20 ,  2H051CC02 ,  2H051CE24 ,  2H051EB20 ,  2H059AA07 ,  2H059AA09 ,  2H149AA00 ,  2H149AA22 ,  2H149BA01 ,  2H149BA02 ,  2H151BB27 ,  2H151CB08 ,  2H151CB20 ,  2H151CC02 ,  2H151CE30 ,  2H151EB20 ,  2H199AB01 ,  2H199AB52 ,  2H199AB62 ,  5C122FB02 ,  5C122FB17 ,  5C122FD01 ,  5C122FD05 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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