特許
J-GLOBAL ID：201003064891312312

電気設備の良否診断システム

発明者：
中村 久栄

中村 久栄 について

, 
水野 幸男

水野 幸男 について


出願人/特許権者：
株式会社トーエネック

株式会社トーエネック について

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国立大学法人 名古屋工業大学

国立大学法人 名古屋工業大学 について


代理人 (1件)： 清水 義久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-054175
公開番号（公開出願番号）：特開2010-185861
出願日： 2009年02月12日
公開日（公表日）： 2010年08月26日
要約：
【課題】診断対象となる電気設備の正常状態のみの診断データのみを用意しておくことで、効率的にその設備の良否判断が可能な電気設備の良否診断システムを提供することを課題とする。【解決手段】上記課題を解決するための電気設備の良否診断システム1は、診断対象となる電動機Mが正常状態のときに演算部3の平均・標準偏差演算部4は、特徴量検出部2で得られた特徴量の平均と標準偏差とを導出して記憶する。演算部3の確率演算部5は、実際に設備を診断する場合に、特徴量検出部2で得られた特徴量と、平均・標準偏差演算部4に記憶されている前記平均と標準偏差とに基づいて決定された楕円体の内側に存在する確率を計算すると、診断部6は、その計算された確率値に基づいて当該設備が正常か異常かを診断して表示部7に表示させる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
診断対象となる電気設備から得られる特徴量を検出する特徴量検出手段と、前記電気設備が正常状態のときに前記特徴量検出手段で得られた特徴量の平均と標準偏差とを導出して記憶しておく演算記憶手段と、前記電気設備の診断をする際に、前記特徴量検出手段により得られた特徴量と前記演算記憶手段に記憶されている前記平均と標準偏差とに基づいて決定される楕円体の内側に存在する確率値を求める確率計算手段と、前記確率計算手段で求めた確率値に基づいて前記電気設備が正常か異常かを診断する診断手段とを備えたことを特徴とする電気設備の良否診断システム。
IPC (3件)：
G01R 31/06 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/12
FI (3件)：
G01R31/06 ,  G01R31/00 ,  G01R31/12 Z
Fターム (25件)：
2G014AA03 ,  2G014AA15 ,  2G014AA23 ,  2G014AB04 ,  2G014AB07 ,  2G014AB49 ,  2G014AC15 ,  2G014AC19 ,  2G015AA07 ,  2G015AA14 ,  2G015AA19 ,  2G015BA06 ,  2G015CA08 ,  2G015CA20 ,  2G036AA02 ,  2G036AA05 ,  2G036AA07 ,  2G036AA22 ,  2G036AA24 ,  2G036AA27 ,  2G036BA02 ,  2G036BA03 ,  2G036BB22 ,  2G036CA11 ,  2G036CA12
引用特許：
審査官引用 (5件)
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