特許
J-GLOBAL ID：201003070987015963

自動分析装置

発明者：
中沢 隆史

中沢 隆史 について

, 
三島 弘之

三島 弘之 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-013255
公開番号（公開出願番号）：特開2010-169581
出願日： 2009年01月23日
公開日（公表日）： 2010年08月05日
要約：
【課題】試料濃度の変化に起因する測定結果の誤差を抑制することができる自動分析装置を提供する。【解決手段】測定対象の試料を収容した試料容器11と、試料と反応させるための試薬を収容した試薬容器21と、試料と試薬とを混合した反応液を収容して反応させる反応容器31と、試料容器11から試料を反応容器31に分注する試料分注機構4と、試薬容器21から試薬を反応容器31に分注する試薬分注機構5とを備えた自動分析装置において、吸光度測定機構12により試料容器11に収容された試料の吸光度を測定し、吸光度測定機構34により反応容器31に収容された反応液の吸光度を測定する。試料の吸光度に基づいて反応液の吸光度を補正し、その補正後の吸光度を用いて反応液の濃度を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象の試料を収容した試料容器と、 前記試料容器に収容された試料の濃度を測定する試料濃度測定手段と、 前記試料容器からの試料と試薬とを混合した反応液を収容して反応させる反応容器と、 前記反応容器に収容された前記反応液の濃度を測定する反応液濃度測定手段と を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 35/00 ,  G01N 35/10
FI (2件)：
G01N35/00 E ,  G01N35/06 D
Fターム (14件)：
2G058CB04 ,  2G058CD04 ,  2G058CE08 ,  2G058EA02 ,  2G058EA04 ,  2G058EA14 ,  2G058ED03 ,  2G058FA01 ,  2G058FB03 ,  2G058FB12 ,  2G058GA03 ,  2G058GB10 ,  2G058GE09 ,  2G058GE10
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (7件)
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