特許
J-GLOBAL ID：201003075313382083

質量分析用デバイス及びそれを用いた質量分析装置、質量分析方法

発明者：
村上 直樹

村上 直樹 について

, 
大塚 尚

大塚 尚 について

, 
池田 森人

池田 森人 について


出願人/特許権者：
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社 について


代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-237681
公開番号（公開出願番号）：特開2010-071727
出願日： 2008年09月17日
公開日（公表日）： 2010年04月02日
要約：
【課題】表面支援レーザ脱離イオン化質量分析法において、測定光の低パワー化を実現し、難揮発性の物質や高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。【解決手段】質量分析用デバイス1は、表面1sに接触させた試料に測定光L1を照射することにより、試料中に含まれる被分析物質Sを表面1sから脱離させるものであって、基板10の一表面10sに、測定光L1の照射により局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属体20を備えた微細構造体30と、微細構造体30の表面30sの少なくとも一部に固着されたイオン化促進剤Iとを備えたものである。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
表面に接触させた試料に測定光を照射することにより、該試料中に含まれる被分析物質を前記表面から脱離させる質量分析用デバイスであって、 基板の一表面に、前記測定光の照射により局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属体を備えた微細構造体と、 該微細構造体の前記表面の少なくとも一部に固着されたイオン化促進剤とを備えたことを特徴とする質量分析用デバイス。
IPC (1件)：
G01N 27/64
FI (1件)：
G01N27/64 B
Fターム (11件)：
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041EA03 ,  2G041FA09 ,  2G041FA10 ,  2G041GA06 ,  2G041GA13 ,  2G041JA07 ,  2G041JA08 ,  2G041LA07
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • MALDI-TOF質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-158866   出願人：株式会社島津製作所
  • 米国特許第2008/0073512号明細書
  • 米国特許第2006/0157648号明細書
審査官引用 (4件)
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