特許
J-GLOBAL ID：200903097452758902
LDIプレート、レーザー脱離イオン化質量分析装置、レーザー脱離イオン化質量分析方法及びLDIプレート製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
立石 琢也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-036658
公開番号（公開出願番号）：特開2008-204654
出願日： 2007年02月16日
公開日（公表日）： 2008年09月04日
要約：
【課題】 汎用性の高いLDIプレート等を提供する。【解決手段】 本発明の第1の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレート。
IPC (3件)：
H01J 49/16
, H01J 49/04
, G01N 27/62
H01J49/16
, H01J49/04
, G01N27/62 Z
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041EA01
, 2G041FA11
, 2G041FA12
, 2G041GA16
, 2G041JA07
, 2G041JA08
, 5C038EE03
, 5C038EF15
, 5C038EF16
, 5C038GG07
, 5C038GH17
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)
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