特許
J-GLOBAL ID:201003076906488550

試料試験管を取り扱う方法および研究室システム並びに画像解析ユニット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 朝日奈 宗太
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-172311
公開番号(公開出願番号):特開2010-032517
出願日: 2009年07月23日
公開日(公表日): 2010年02月12日
要約:
【課題】試料試験管を保存するための試験管識別自動システム。【解決手段】試料試験管を収容している搬入一次ラックPRを、移送ユニットにより画像解析ユニット310に移送する段階、画像解析ユニットにおいて、一次ラックに収容されている少なくとも1つの試料試験管の形状についてのパラメータを画像解析により判定する段階、識別・割当ユニットにおいて、各々の試料試験管について、判定された形状についてのパラメータを予め決められた形状基準と比較して、試料試験管の形状が予め決められた形状基準を満たしているか否かを識別する段階からなる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
試料試験管(1、2、3、4、5)を収容している搬入一次ラック(PR)を移送するための移送ユニット、画像解析ユニット(310)および識別・割当ユニットを有する研究室システムの研究室試料試験管を取り扱う方法において、 -試料試験管(1、2、3、4、5)を収容している搬入一次ラック(PR)を、前記移送ユニットにより前記画像解析ユニット(310)に移送する段階と、 -前記画像解析ユニット(310)において、前記一次ラックに収容されている少なくとも1つの試料試験管の形状についてのパラメータを画像解析により判定する段階と、 -前記識別・割当ユニットにおいて、各々の試料試験管について、前記判定された形状についてのパラメータを予め決められた形状基準と比較して、前記試料試験管の形状が前記予め決められた形状基準を満たしているか否かを識別する段階と、 -満たしている場合に、前記試料試験管をシステム適合に分類する段階と、 -そうでない場合には、前記試料試験管をシステム非適合に分類する段階とを含み、 システム適合と判定された各々の試料試験管は、さらなる処理に回され、また、システム非適合と判定された各々の試料試験管は、エラー処理に回されることを特徴とする方法。
IPC (2件):
G01N 35/02 ,  G01N 35/04
FI (2件):
G01N35/02 C ,  G01N35/04 H
Fターム (3件):
2G058CA00 ,  2G058CB08 ,  2G058CE00
引用特許:
審査官引用 (3件)

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