特許
J-GLOBAL ID：201003085211880785

金属の腐食診断方法

発明者：
北川 尚男

北川 尚男 について


出願人/特許権者：
JFEエンジニアリング株式会社

JFEエンジニアリング株式会社 について


代理人 (1件)： 田中 政浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-118291
公開番号（公開出願番号）：特開2010-266342
出願日： 2009年05月15日
公開日（公表日）： 2010年11月25日
要約：
【課題】 電気防食が施されている伝導体中の金属を覆う被覆に発生した損傷状態を、感度よく、しかも信頼性が高く診断する方法を提供する。【解決手段】 上記課題は、電気防食が施されている伝導体中の金属を覆う被覆に発生した損傷を診断する方法において、金属被覆に発生した損傷の位置および面積を測定し、伝導体の電気抵抗率を測定し、これらの情報を元に電気的解析モデルを作成し、アノード電極および金属表面の電位ならびに電流密度の解析を行うことを特徴とする金属の腐食診断方法によって解決される。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
電気防食が施されている伝導体中の金属を覆う被覆に発生した損傷を診断する方法において、金属被覆に発生した損傷の位置および面積を測定し、伝導体の電気抵抗率を測定し、これらの情報を元に電気的解析モデルを作成し、アノード電極および金属表面の電位ならびに電流密度の解析を行うことを特徴とする金属の腐食診断方法。
IPC (4件)：
G01N 17/02 ,  G01N 17/04 ,  G01N 27/26 ,  G01N 27/20
FI (7件)：
G01N17/02 ,  G01N17/04 ,  G01N27/26 351H ,  G01N27/26 351M ,  G01N27/26 351P ,  G01N27/26 351F ,  G01N27/20 Z
Fターム (22件)：
2G050AA01 ,  2G050AA04 ,  2G050AA06 ,  2G050BA03 ,  2G050BA08 ,  2G050EB02 ,  2G050EB03 ,  2G050EB06 ,  2G050EC01 ,  2G060AA10 ,  2G060AA14 ,  2G060AE05 ,  2G060AE28 ,  2G060AF07 ,  2G060AF15 ,  2G060AG07 ,  2G060AG11 ,  2G060EA03 ,  2G060EA04 ,  2G060EB02 ,  2G060HC13 ,  2G060KA13
引用特許：
審査官引用 (9件)
  • 特開平4-095867
  • 特開平4-095868
  • 特開昭61-209349
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