マイクロ波放射計

発明者： , , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (6件)：曾我道治 , 古川秀利 , 鈴木憲七 , 梶並順 , 大宅一宏 , 上田俊一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-281940
公開番号（公開出願番号）：特開2010-107458
出願日： 2008年10月31日
公開日（公表日）： 2010年05月13日
要約：

【課題】電波吸収体の中で温度差が発生することを抑制できるマイクロ波放射計を得る。【解決手段】観測用マイクロ波を反射する主反射鏡4と、低温校正用マイクロ波を反射する低温校正用反射鏡6と、高温校正用マイクロ波を放射する高温校正源7と、観測用マイクロ波を受信し、低温校正位置で低温校正用マイクロ波を受信し、高温校正位置で高温校正用マイクロ波を受信する一次放射器5とを備え、高温校正源7は、開口部9aが形成された収容箱9と、収容箱9の内側に設けられた電波吸収体10と、収容箱9の外側を覆ったMLI11と、収容箱9の壁を加熱するヒータ12と、電波吸収体10の温度を検出する第1の温度センサ13とを有し、低温校正用マイクロ波の強度の値、深宇宙の温度の値、高温校正用マイクロ波の強度の値および電波吸収体10の温度の値を用いて、測定される観測対象の温度の値を校正する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

ベースに回転可能に設けられる構体と、前記構体に連結体を介して固定され、観測対象から入射する観測用マイクロ波を反射する主反射鏡と、前記構体に固定され、前記構体が回転するとともに移動して、前記主反射鏡に反射された前記観測用マイクロ波を受信する一次放射器とを備え、前記一次放射器が受信した前記観測用マイクロ波の強度の値を用いて前記観測対象の温度を測定するマイクロ波放射計であって、前記ベースに固定され、深宇宙から入射する低温校正用マイクロ波を反射して、低温校正位置にある前記一次放射器に前記低温校正用マイクロ波を入射させる低温校正用反射鏡と、前記ベースに固定され、高温校正用マイクロ波を放射し、高温校正位置にある前記一次放射器に前記高温校正用マイクロ波を入射させる高温校正源とを備え、前記高温校正源は、前記高温校正位置にある前記一次放射器に対向する開口部が形成された収容箱と、前記収容箱の内側に設けられた、前記高温校正用マイクロ波を放射する複数の電波吸収体と、前記収容箱の外側を覆った断熱材と、前記収容箱の壁に設けられ、前記壁を加熱する加熱手段と、前記電波吸収体に設けられ、前記電波吸収体の温度を検出する第1の温度センサとを有し、前記一次放射器が受信した前記低温校正用マイクロ波の強度の値と、前記深宇宙の温度の値と、前記一次放射器が受信した前記高温校正用マイクロ波の強度の値と、そのときに前記第1の温度センサによって検出された前記電波吸収体の温度の値とを用いて、前記一次放射器が受信する前記観測用マイクロ波の強度の値から測定される前記観測対象の温度の値を校正することを特徴とするマイクロ波放射計。

IPC (2件)：

G01J 5/46 , G01J 5/00

FI (2件)：

G01J5/46 , G01J5/00 E

Fターム (5件)：

2G066AA06 , 2G066AC20 , 2G066BA10 , 2G066CA20 , 2G066CB01

引用特許：

出願人引用 (1件)

マイクロ波放射計
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-350132 出願人：三菱電機株式会社, 独立行政法人宇宙航空研究開発機構

審査官引用 (8件)

マイクロ波放射計
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-350132 出願人：三菱電機株式会社, 独立行政法人宇宙航空研究開発機構
黒体炉
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-210609 出願人：東海カーボン株式会社
赤外線放射器及びそれを用いた赤外線放射装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-297600 出願人：アンリツ株式会社

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