特許
J-GLOBAL ID:200903047885488155

顕微鏡

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 興作 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-249132
公開番号(公開出願番号):特開2003-167198
出願日: 2002年08月28日
公開日(公表日): 2003年06月13日
要約:
【要約】【課題】 ポンプ光とイレース光とを光路分岐することなく、一貫して同じ光軸上を進行させて試料面まで到達させることにより、光の利用効率に優れ、簡単な光学系の構成で観察分解能に優れた顕微鏡を提供する。【解決手段】 レーザー光源1からのレーザー光を波長変換素子2に入射させて同軸上で基本波とその2倍波とを得、これらの光を位相変調素子4に入射させて、2倍波はビーム整形することなく出射させ、基本波はビーム中央部の強度が周辺部よりも弱くなるように位相変調して出射させて、基本波をイレース光として、2倍波をポンプ光として集光光学系8により観察試料9に集光させることにより、ポンプ光により観察試料9内の分子を基底状態から第1電子励起状態に励起し、イレース光により第1電子励起状態から他の電子状態へ遷移させて、観察試料9からからの発光を検出光学系10〜14で検出する。
請求項(抜粋):
少なくとも基底状態を含む3つの電子状態を有する分子を含む試料を観察する顕微鏡であって、レーザー光源と、このレーザー光源から出射したレーザー光の基本波の一部を、同軸上で2倍波に変換する波長変換素子と、この波長変換素子から出射した上記2倍波はビーム整形することなく出射させ、上記基本波はビーム中央部の強度が周辺部よりも弱くなるように位相変調して出射する位相変調素子と、この位相変調素子から出射した上記基本波および2倍波を観察試料に集光する集光光学系と、上記観察試料からからの発光を検出する検出光学系と、を有し、上記2倍波により、上記観察試料内の上記分子を基底状態から第1電子励起状態に励起し、上記基本波により第1電子励起状態から他の電子状態へ遷移させるよう構成したことを特徴とする顕微鏡。
IPC (4件):
G02B 21/00 ,  G02B 21/06 ,  G02F 1/13 505 ,  G02F 1/37
FI (4件):
G02B 21/00 ,  G02B 21/06 ,  G02F 1/13 505 ,  G02F 1/37
Fターム (21件):
2H052AA03 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC10 ,  2H052AC12 ,  2H052AC15 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H088EA47 ,  2H088HA13 ,  2H088HA17 ,  2H088HA22 ,  2H088MA06 ,  2H088MA20 ,  2K002AA04 ,  2K002AB12 ,  2K002BA03 ,  2K002CA02 ,  2K002EA30 ,  2K002HA20
引用特許:
審査官引用 (9件)
  • 超解像顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-259889   出願人:科学技術振興事業団, オリンパス光学工業株式会社, 株式会社日本ローパー
  • レーザ穴あけ加工方法及び加工装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-207187   出願人:住友重機械工業株式会社
  • 顕微鏡システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-097924   出願人:科学技術振興事業団, オリンパス光学工業株式会社
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