粒子状物質検出装置

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：渡邉一平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-176082
公開番号（公開出願番号）：特開2010-014615
出願日： 2008年07月04日
公開日（公表日）： 2010年01月21日
要約：

【課題】粒子状物質の検出を簡易に行えて低廉であり、測定精度が高い粒子状物質検出装置を提供すること。【解決手段】一の面が平面状の電極間誘電体4で被覆をされた板状を呈する一の電極1、その一の電極1の一の面の側に粒子状物質11を含む気体が流れる空間を介して配設をされ一の電極1との間に印加をされる電圧によって電界の形成及び放電の何れか又は両方を行う二の電極2、及びその電圧の印加をする電源9、並びに、電極間誘電体4の表面に設けられた凸状の段差基礎誘電体34の更に表面に電極間誘電体4に対し段差をもって配設をされる測定対向電極5、その測定対向電極5と一の電極1との間における電気的特性の測定をする特性測定手段3、及びその特性測定手段3で測定をされる電気的特性の変化量に基づいて放電によって集塵をされた粒子状物質11の量を求める粒子状物質量算出手段13、を備える粒子状物質検出装置100の提供による。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

一の面が平面状の誘電体で被覆をされた板状を呈する一の電極、その一の電極の一の面の側に粒子状物質を含む気体が流れる空間を介して配設をされ一の電極との間に印加をされる電圧によって電界の形成及び放電の何れか又は両方を行う二の電極、及び前記電圧の印加をする電源、並びに、前記平面状の誘電体の表面に設けられた凸状の誘電体の更に表面に前記平面状の誘電体に対し段差をもって配設をされる測定対向電極、その測定対向電極と前記一の電極との間における電気的特性の測定をする特性測定手段、及びその特性測定手段で測定をされる電気的特性の変化量に基づいて前記電界の形成及び放電の何れか又は両方によって集塵をされた粒子状物質の量を求める粒子状物質量算出手段、を備える粒子状物質検出装置。

IPC (2件)：

G01N 15/06 , G01N 1/02

FI (2件)：

G01N15/06 D , G01N1/02 K

Fターム (5件)：

2G052AC02 , 2G052AD04 , 2G052AD24 , 2G052AD32 , 2G052BA24

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開昭60-123761号公報
特開昭63-286753
大気中の浮遊粒子状物質の測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-122557 出願人：株式会社島津製作所

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審査官引用 (5件)

特開昭63-286753
大気中の浮遊粒子状物質の測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-122557 出願人：株式会社島津製作所
検知装置及び方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-289654 出願人：本田技研工業株式会社

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