特許
J-GLOBAL ID：201003092807472540

太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法

発明者：
笠原 昌人

笠原 昌人 について

, 
渋谷 俊緒

渋谷 俊緒 について


出願人/特許権者：
日清紡ホールディングス株式会社

日清紡ホールディングス株式会社 について


代理人 (1件)： 中倉 和彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-171925
公開番号（公開出願番号）：特開2010-016019
出願日： 2008年07月01日
公開日（公表日）： 2010年01月21日
要約：
【課題】 太陽電池に通電することでEL発光させ、発光状態から欠陥の有無などを調べ、太陽電池の良否を判定することができる太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法を提供する。【解決手段】 太陽電池セルに一定電流を供給してEL発光させ(S7)、太陽電池セル毎に太陽電池セルからの発光光を撮影し(S10)、撮影したセル画像を、閾値を用いて明部と暗部とに分け、2値化して強調表示する。太陽電池セルの欠陥をタイプごとに分け、暗部の形状を各タイプと比較して解析し(S50)欠陥の有無を判定し、太陽電池セルの良否判断を行う。また問題があると判定した欠陥のある部分を視認可能に表示(S16)する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
太陽電池内の太陽電池セルの良否を判定する太陽電池の検査装置であって、 検査対象となる太陽電池セルに電流を通電する電源手段と、 前記電源手段により通電された前記太陽電池セルからの発光光を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段で撮影した太陽電池セルの撮影画像を解析する解析手段と、を有し、 前記解析手段は、前記撮影手段で撮影した太陽電池セルの撮影画像について、撮影画像中の明暗が混在する部分における平均の明るさから閾値を求め、該閾値によって撮影画像を明部と暗部とに分け、明部と暗部とを2値化表示することによって強調し、太陽電池セルごとの欠陥の有無を判定することを特徴とする太陽電池の検査装置。
IPC (1件)：
H01L 31/04
FI (1件)：
H01L31/04 K
Fターム (2件)：
5F051KA09 ,  5F051KA10
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (5件)
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