研究者
J-GLOBAL ID:201101025966138903   更新日: 2020年06月07日

酒井 智香子

Sakai Chikako
所属機関・部署:
職名: 特命助教
研究キーワード (2件): 電気伝導度測定 ,  光電子分光
競争的資金等の研究課題 (1件):
  • 2016 - 2018 ヘリウムイオン顕微鏡による全固体電池の構造/充放電特性 オペランド計測法の開発
論文 (9件):
  • Chikako Sakai, Nobuyuki Ishida, Shoko Nagano, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. In situ Voltage-Application System for Active Voltage Contrast Imaging in Helium Ion Microscope. Journal of Vacuum Science & Technology B. 2018. 36. 042903-1-042903-5
  • S. Yamamoto, K. Urushibata, Y. Enomoto, S. Miki, C. Sakai, H. Yoshida, Y. Hotta, A. Ogura, S. Satoh, K. Arafune. Refractive index dependence of a-SiNx:H surface passivation quality for crystalline silicon solar cells. 23rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference. 2013
  • S. Miki, K. Iguchi, H. Imaeda, K. Ueda, C. Sakai, H. Yoshida, Y. Hotta, A. Ogura, S. Satoh, K. Arafune. Passivation quality of AlOx film deposited by mist CVD. 23rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference. 2013
  • Ko Urushibata, Chikako Sakai, Shohei Miki, Haruhiko Yoshida, Yasushi Hotta, Hyun Ju Lee, Atsushi Ogura, Shin-ichi Satoh, Koji Arafune. Effect of UV irradiation on passivation quality of ozone-based atomic layer deposited AlOx films. 23rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference. 2013
  • Koji Arafune, Shunsuke Yamamoto, Ko Urushibata, Shohei Miki, Chikako Sakai, Haruhiko Yoshida, Hyun Ju Lee, Atsushi Ogura, Yoshio Ohshita, Shin-ichi Satoh. Study of O3-based atomic layer deposited AlOx passivation films for crystalline silicon solar cells. 22nd International Photovoltaic Science and Engineering Conference. 2012
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特許 (1件):
  • 試料載置ユニット、真空オペランド測定装置、及びリチウムイオン二次電池を用いたオペランド測定方法
書籍 (1件):
  • Active Voltage Contrast Imaging for Measuring Electrical Potential Distribution using Helium Ion Microscopy
    Advances in Engineering Research, Nova Science Publishers, Inc. 2019
講演・口頭発表等 (54件):
  • Study using Helium Ion Microscope in GREEN
    (20th GREEN Symposium 2019)
  • Study of Critical Temperature for Alkali Metal Adsorbed Copper Oxide High-Tc Superconductors
    (The 31st International Symposium on Superconductivity 2018)
  • ヘリウムイオン顕微鏡法を用いた電位分布画像化
    (第133回先端計測オープンセミナー 2018)
  • In situ Voltage-Application System for Observation of Electrical Potential Distribution in Helium Ion Microscope
    (14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures 2018)
  • Secondary Electron Imaging of Perovskite Solar Cell using Helium Ion Microscope
    (The 18th GREEN Symposium 2018)
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学位 (1件):
  • 博士(理学) (奈良先端科学技術大学院大学)
受賞 (2件):
  • 2008/03 - 奈良先端科学技術大学院大学 最優秀学生賞受賞
  • 2008/03 - 財団法人奈良先端科学技術大学院大学支援財団 NAIST最優秀学生賞受賞
所属学会 (6件):
日本顕微鏡学会 ,  応用物理学会 ,  日本化学会 ,  日本放射光学会 ,  日本表面真空学会 ,  日本物理学会
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