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J-GLOBAL ID：201102233138936575   整理番号：11A0111897

原子分解能走査型透過電子顕微鏡に対する新しい二次元検出器

New area detector for atomic-resolution scanning transmission electron microscopy

著者 (8件)： SHIBATA Naoya (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SHIBATA Naoya (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  KOHNO Yuji (JEOL Ltd, Tokyo, JPN) ,  FINDLAY Scott D. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SAWADA Hidetaka (JEOL Ltd, Tokyo, JPN) ,  KONDO Yukihito (JEOL Ltd, Tokyo, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
資料名： Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)
巻： 59  号： 6  ページ： 473-479  発行年： 2010年12月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 0022-0744  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 原子分解能走査型透過顕微鏡(STEM)用の新しい二次元検出器を開発した。検出器を16分割して,それぞれのセグメントは光電子増倍管に光学的に結合している。この検出器を用いる事により,16個の原子分解能STEM像を同時に検出し,散乱電子の空間的分布を感度よく検出できる。

シソーラス用語： *透過型走査電子顕微鏡 ,  分解能 ,  *検出器 ,  光電子増倍管 ,  画像処理
準シソーラス用語： STEM【顕微鏡】 ,  イメージング ,  原子分解能

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 原子分解能 ,  走査型透過電子顕微鏡 ,  検出器