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J-GLOBAL ID：201102245573353814   整理番号：11A1491886

表面に金属ナノ構造を持つInGaN薄膜の光学特性

著者 (9件)： 中治光童 (北大 大学院) ,  木場隆之 (北大 大学院) ,  木場隆之 (JST-CREST) ,  村山明宏 (北大 大学院) ,  村山明宏 (JST-CREST) ,  佐久間実緒 (仙台高専) ,  横田幸恵 (北大 電子科研) ,  上野貢生 (北大 電子科研) ,  三澤弘明 (北大 電子科研)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 72nd  ページ： ROMBUNNO.31P-P6-13  発行年： 2011年08月16日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *インジウム化合物 ,  ガリウム化合物 ,  窒化物 ,  半導体薄膜 ,  金属 ,  金 ,  *ナノ構造 ,  表面構造 ,  *光学的性質 ,  発光 ,  応答 ,  光ルミネセンス ,  蛍光スペクトル ,  顕微分光分析 ,  試料調製 ,  金属薄膜 ,  電子ビームリソグラフィー ,  走査電子顕微鏡 ,  配列 ,  規則度 ,  間隔 ,  光源 ,  連続レーザ ,  熱特性 ,  励起子 ,  電界強度 ,  解析 ,  低温特性 ,  励起光源 ,  *窒化インジウムガリウム ,  金膜 ,  構造
準シソーラス用語： Au ,  *InGaN ,  SEM【顕微鏡】 ,  規則性 ,  金薄膜 ,  顕微分光測定法 ,  光応答 ,  *光学特性 ,  試料作製 ,  電場強度

分類 (3件)： 半導体のルミネセンス  (BM08092S) ,  半導体薄膜  (BK14040E) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 金属ナノ構造 ,  InGaN ,  薄膜 ,  光学特性