特許
J-GLOBAL ID:201103000082451572
無洗米の品質評価方法及びその装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-335199
公開番号(公開出願番号):特開2003-139706
特許番号:特許第3735289号
出願日: 2001年10月31日
公開日(公表日): 2003年05月14日
請求項(抜粋):
【請求項1】被測定物に励起光を照射して得られる自家蛍光の輝度の違いにより、その表面に付着する外皮層、アリューロン層及び胚乳層の各部分の量的な割合を同時に識別して品質を評価する無洗米の品質評価方法であって、前記被測定物へ約560〜570nm付近の緑色領域の波長を励起光として照射するとともに、前記測定物から約590nm以上の赤色領域の波長を自家蛍光として取得することを特徴とする無洗米の品質評価方法。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
審査官引用 (8件)
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特公昭61-018980
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特開昭62-073139
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米品質評価装置の表示システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-172671
出願人:生物系特定産業技術研究推進機構, 井関農機株式会社, 株式会社ケット科学研究所, 静岡製機株式会社, 株式会社クボタ
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材料検査
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-609219
出願人:エム・ブイ・リサーチ・リミテッド
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検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-261978
出願人:ソニー株式会社
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穀粒の等級判別装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-329464
出願人:株式会社四国製作所
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無洗米製造方法及び無洗米製造装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-215639
出願人:株式会社佐竹製作所
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特許第3206752号
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