特許
J-GLOBAL ID：201103001462975740
テストパタンセット圧縮装置、方法及び記録媒体
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 満
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-300173
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116808
特許番号：特許第3430082号
出願日： 1999年10月21日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】論理回路の故障を検出するための複数のテストパタンを含むテストパタンセットを圧縮する装置であって、前記テストパタンセットに含まれる複数のテストパタンを、各テストパタンに含まれる不確定値の数の少ない順番に並び替えるテストパタン順序変更手段と、各テストパタンに含まれる不確定値に対して、該テストパタンよりもテストパタンセット内において後ろにあるテストパタンの対応する値に従って、0または1のいずれかの状態を割り当てる不確定値再活性手段と、前記不確定値再活性手段により状態の割り当てが行われた複数のテストパタンのうちで前記論理回路の故障を検出できないテストパタンを破棄するとともに、各テストパタン内で故障を検出するのに不要な箇所を不確定値に変更する不確定値決定手段と、前記不確定値決定手段によって破棄されずに残ったテストパタンのうちで、所定の規則に従って併合することが可能なテストパタン同士を併合するテストパタン併合手段とを備えることを特徴とするテストパタンセット圧縮装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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