特許
J-GLOBAL ID：201103002475196402

イオントラップ質量分析方法

発明者：
加藤 義昭

加藤 義昭 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (2件)： 高田 幸彦 ,  竹ノ内 勝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-342835
公開番号（公開出願番号）：特開2002-184348
特許番号：特許第3756365号
出願日： 1999年12月02日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 質量対電荷比が所定の質量範囲内にあるイオンをトラップするように構成された三次元四重極電界を有するイオントラップ空間を形成し、 前記トラップ空間の中でイオンを生成するかまたは外部からイオンを注入して前記質量対電荷比が所定の範囲内にあるイオンを前記イオントラップ空間の中にトラップし、 前駆イオンをイオントラップ空間に残しそれ以外のイオンを除去し、トラップした前駆イオンの衝突誘起解離を行い、娘イオンを生成してイオントラップ空間にトラップし、その後、四重極電界を変化させ娘イオンのイオン電流を検出する質量分析方法において、 m/z320から324のイオンをイオントラップ内に残し、 これらのイオンを衝突誘起解離を行い、m/z257から261の娘イオンを生成してダイオキシンの質量分析を行うことを特徴とする質量分析方法。
IPC (2件)：
H01J 49/42 ( 200 6.01) ,  G01N 27/62 ( 200 6.01)
FI (3件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 ZAB V
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (7件)
  • 特表平7-502138
  • 特表平7-502138
  • 質量スペクトル解析法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-145992   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
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