特許
J-GLOBAL ID:201103003889546630
半導体素子の製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
山崎 宏
, 前田 厚司
, 仲倉 幸典
, 小池 隆彌
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-117480
公開番号(公開出願番号):特開2000-307198
特許番号:特許第3608976号
出願日: 1999年04月26日
公開日(公表日): 2000年11月02日
請求項(抜粋):
【請求項1】分子線エピタキシャル成長法により、複数の層を積層して半導体素子を製造する際、所望の層の同一材料に対する原料の供給を、複数の分子線セルを用いてなり、組成が異なる層毎に、その組成を決定する同一の材料の分子線セルの数が異なってなることを特徴とする半導体素子の製造方法。
IPC (2件):
FI (2件):
H01S 5/343
, H01L 21/203 M
引用特許:
出願人引用 (4件)
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特開平2-240915
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FETの製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-095251
出願人:日本電気株式会社
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化合物半導体膜の形成方法及び発光素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-259723
出願人:シャープ株式会社
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分子線結晶成長方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-259272
出願人:富士通株式会社
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審査官引用 (3件)
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特開平2-240915
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特開平2-240915
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FETの製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-095251
出願人:日本電気株式会社
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