特許
J-GLOBAL ID：201103005854994102

CT装置を用いて検査対象物の螺旋走査により得られた測定値から像を再構成するための方法およびこのような方法を実施するためのCT装置

発明者：
トーマス フロール

トーマス フロール について

, 
シュテファン シャラー

シュテファン シャラー について


出願人/特許権者：
シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト

シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト について


代理人 (2件)： 山口 巖 ,  山本 浩
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-199010
公開番号（公開出願番号）：特開2000-037379
特許番号：特許第4567117号
出願日： 1999年07月13日
公開日（公表日）： 2000年02月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検出器要素の少なくとも1つの行を構成する検出器を備えたCT装置を用いて、螺旋走査により得られた測定値から像平面に関する像を再構成するための方法であって、測定値がそれぞれ多数の投影角の1つと螺旋走査の長手方向軸線上のz位置とに対応付けられている方法において、各々の投影角に関して、この投影角および相応の相補性の投影角に属する、像平面からの最大の距離のなかに位置しているすべての測定値が、像平面からの螺旋走査の長手方向軸線の方向のその空間的な間隔に相応して、第1の重み付け関数に従って重み付けされて再構成に取り入れられ、またさらに各々の投影角に関して、この投影角および相応の相補性の投影角に属する、参照時点から最大の時間的間隔のなかに位置しているすべての投影が、参照時点からのその時間的間隔に相応して第2の重み付け関数に従って重み付けされ、第2の重み付け関数が定数ではないことを特徴とする像を再構成するための方法。
IPC (1件)：
A61B 6/03 ( 200 6.01)
FI (2件)：
A61B 6/03 350 U ,  A61B 6/03 321 Q
引用特許：
審査官引用 (10件)
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引用文献：
審査官引用 (3件)
  • "Dual-slice spiral versus single-slice spiral scanning: Comparison of the physical performance of tw
  • "Dual-slice spiral versus single-slice spiral scanning: Comparison of the physical performance of tw
  • "Evaluation of Section Sensitivity Profiles and Image Noise in Spiral CT"

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