特許
J-GLOBAL ID：201103015460753393
自動分析装置及び自動分析装置の制御方法
出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ
株式会社日立ハイテクノロジーズ について
代理人 (2件)： 井上 学 , 戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-158367
公開番号（公開出願番号）：特開2011-013127
出願日： 2009年07月03日
公開日（公表日）： 2011年01月20日
要約：
【課題】自動分析装置において、装置の複雑化や大型化を抑制しつつ、装置の処理能力を高める装置が望まれている。また、試薬や洗浄水の消費量といった、ランニングコストに対する低減も求められている。【解決手段】反応ディスクの円周上に複数配置された任意の反応容器に対して検体を分注する検体分注機構を備え、連続して複数の反応容器に同一の検体を分注する。また、試薬分注位置に連続して同一の試薬を用いる分析項目が依頼された検体が位置付けられるよう検体吐出位置を制御する。これによって検体分注プローブ及び試薬分注プローブに対する不要な洗浄を省略し、かつ、試薬ダミー量の少ない自動分析装置を提供する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の反応容器を円周上に配置した反応ディスクと、
前記反応ディスク上の任意の位置を検体吐出位置とし、当該検体吐出位置に位置付けられた反応容器に対して検体を吐出する検体分注機構と、
前記反応ディスク上の所定の位置を試薬吐出位置とし、当該試薬吐出位置に位置付けられた反応容器に対して試薬を吐出する試薬分注機構と、を備えた自動分析装置であって、
同じ分析項目が依頼された検体が、連続して前記試薬吐出位置に位置付けられるよう前記検体吐出位置を制御する検体分注制御部を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (3件)：
FI (5件)：
Fターム (5件)：
引用特許：
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