特許
J-GLOBAL ID:201103015959050326

熱分析方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 野河 信太郎 ,  稲本 潔 ,  金子 裕輔 ,  甲斐 伸二 ,  秋山 雅則
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-537484
公開番号(公開出願番号):特表2011-506947
出願日: 2008年12月05日
公開日(公表日): 2011年03月03日
要約:
等価条件下で温度変化に付される2つの試料(84、84')間の物理的パラメータの示差測定法を含み、前記2つの試料は、組成および熱特性が実質的に同一であり、測定の開始時に既知の大きさの初期温度差を示すことを特徴とする、試料の熱特性を測定する熱分析方法。
請求項(抜粋):
等価条件下で温度変化に付される2つの試料(84、84')間の物理的パラメータの示差測定法を含み、 前記2つの試料は、組成および熱特性が実質的に同一であり、測定の開始時に既知の大きさの初期温度差を示すことを特徴とする、試料の熱特性を測定する熱分析方法。
IPC (1件):
G01N 25/20
FI (1件):
G01N25/20 B
Fターム (6件):
2G040AB06 ,  2G040CA02 ,  2G040DA02 ,  2G040EA02 ,  2G040GC01 ,  2G040HA06
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 熱分析装置およびその計測方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-034077   出願人:株式会社リコー, 木村光照
  • 示差走査熱量計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-236209   出願人:セイコーインスツルメンツ株式会社
  • 熱分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-125442   出願人:セイコーインスツルメンツ株式会社
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