表面疵マーキング装置およびマーキング付き金属帯の製造方法

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中濱泰光
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-283703
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066262
特許番号：特許第3687441号
出願日： 1999年10月05日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】金属帯の被検査面に線状拡散光源からの光を、偏光板を透過させ、p偏光およびs偏光ともに含んだ直線偏光として照射し、前記被検査面の正反射方向に反射した反射光から鏡面反射成分と鏡面拡散反射成分とを抽出するように、鏡面反射成分をより透過する偏光角に設定された偏光子を通して鏡面反射成分をより多く含む成分を受光する受光部と、該受光部と同一光軸上に配置された、非テンパ部の微小面素のうち、テンパ部の法線方向に対する前記微小面素の法線方向がなす角度により定義される法線角度が、所定の角度となる微小面素からの鏡面拡散反射成分をより多く透過する偏光角に設定された偏光子を通して鏡面拡散反射成分をより多く含む成分を受光する受光部とからなる複数の受光部と、前記抽出した反射光の鏡面反射成分と多数の微小鏡面反射面による鏡面拡散反射成分の組合せに基づき被検査面の表面疵の有無を判定する信号処理部とを有する疵検査手段と、金属帯表面にその疵の種類や程度に関する情報を示すマーキングを行うマーキング手段とを備えていることを特徴とする金属帯の表面疵マーキング装置。

IPC (1件)：

G01N 21/892

FI (1件)：

G01N 21/892 B

引用特許：

審査官引用 (14件)

表面疵検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-286067 出願人：住友金属工業株式会社
単数励磁コイル方式による多重周波数渦流探傷法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-237996 出願人：新日本製鐵株式会社, 株式会社日鉄エレックス, 日本フェルスター株式会社
特開昭62-021012

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