特許
J-GLOBAL ID：201103017565536595
粒子観察装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-004029
公開番号（公開出願番号）：特開2011-145094
出願日： 2010年01月12日
公開日（公表日）： 2011年07月28日
要約：
【課題】移動する粒子を容易に観察可能な粒子観察装置を提供する。【解決手段】粒子観察装置1は、粒子91にレーザ光Lbを照射する光照射部3と、光照射部3からのレーザ光Lbが照射された粒子91を撮像する撮像部5と、撮像部5により撮像された粒子91の画像を解析する画像解析装置6と、粒子91を移動させるための粒子移動部4と、画像解析装置6によって解析された画像解析情報に基づいて、粒子移動部4を制御する粒子移動制御部37とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
粒子に光を照射する光照射手段と、
前記光照射手段からの光が照射された前記粒子を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された粒子の画像を解析する画像解析手段と、
前記粒子を移動させるための粒子移動手段と、
前記画像解析手段によって解析された画像解析情報に基づいて、前記粒子移動手段を制御する粒子移動制御手段とを備えることを特徴とする粒子観察装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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