特許
J-GLOBAL ID:201103017618191382

歪みと温度の分布測定方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-356275
公開番号(公開出願番号):特開2003-156315
特許番号:特許第3492346号
出願日: 2001年11月21日
公開日(公表日): 2003年05月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】 センシング用光ファイバ中で発生するブリルアン散乱現象の変化を捉えて被測定物理量の変化を測定する歪みと温度の分布測定方法において、前記センシング用光ファイバにおける各波長ごとのブリルアン散乱の歪み波長依存係数とその温度波長係数を予め求めておき、前記センシング用光ファイバに入射するポンプ光の各波長ごとのブリルアン周波数シフトの変化を求めるステップと、これら測定データを、前記センシング用光ファイバの歪みの変化と温度の変化とに関する2元連立方程式に代入し演算することにより、前記センシング用光ファイバの各位置で発生した前記歪みの変化と前記温度の変化とをそれぞれ識別して同時に求めるステップと、を有することを特徴とする歪みと温度の分布測定方法。
IPC (2件):
G01B 11/16 ,  G01K 11/12
FI (2件):
G01B 11/16 Z ,  G01K 11/12 F
引用特許:
出願人引用 (5件)
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