特許
J-GLOBAL ID：201103018084114553

試験装置および試験モジュール

発明者：
森田 直志

森田 直志 について

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小石 哲也

小石 哲也 について

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矢口 剛史

矢口 剛史 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-007081
公開番号（公開出願番号）：特開2011-154025
出願日： 2011年01月17日
公開日（公表日）： 2011年08月11日
要約：
【課題】試験モジュールが有するリソースを有効に使用する。【解決手段】少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスとの間で信号を伝送して当該被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する試験モジュールと、前記複数の試験部を制御する複数の試験制御部と、を備え、前記試験モジュールは、前記複数の試験部のそれぞれが前記複数の試験制御部のうちいずれの試験制御部による制御を受けるかを、前記複数の試験部のそれぞれに対して独立に設定可能である、試験装置を提供する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、 被試験デバイスとの間で信号を伝送して当該被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する試験モジュールと、 前記複数の試験部を制御する複数の試験制御部と、 を備え、 前記試験モジュールは、前記複数の試験部のそれぞれが前記複数の試験制御部のうちいずれの試験制御部による制御を受けるかを、前記複数の試験部のそれぞれに対して独立に設定可能である、 試験装置。
IPC (1件)：
G01R 31/28
FI (1件)：
G01R31/28 Y
Fターム (6件)：
2G132AA00 ,  2G132AB01 ,  2G132AE08 ,  2G132AE22 ,  2G132AL25 ,  2G132AL35
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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