ICテスタ

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-226525
公開番号（公開出願番号）：特開2001-051021
特許番号：特許第3601680号
出願日： 1999年08月10日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
請求項（抜粋）：

【請求項1】レートメモリに格納された周期情報に基づいて、レート信号を出力し、このレート信号を、エッジメモリのタイミング情報に基づいて、フォーマッタが、遅延させ、エッジを出力し、このエッジを用いて、被試験対象の試験を行うICテスタにおいて、前記周期情報と前記タイミング情報とを入力し、タイミングエラーを求める演算部を設けたことを特徴とするICテスタ。

IPC (2件)：