特許
J-GLOBAL ID：201103030002232170
撮像装置および撮像方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阿部 琢磨
, 黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-068281
公開番号（公開出願番号）：特開2011-005236
出願日： 2010年03月24日
公開日（公表日）： 2011年01月13日
要約：
【課題】 被検査物における撮像領域によって、撮像の高速性を優先あるいは撮像の高画質性を優先できるように構成すること。【解決手段】 本発明に係る撮像装置(OCT装置100)は、被検査物に照射される複数の測定光の照射位置の位置関係を変更する変更手段(変更部4)を有する。また、本発明に係る撮像装置は、上記変更手段により変更された上記位置関係で複数の測定光を走査する走査手段(走査部7)と、複数の測定光に基づく被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段(取得部1)を有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の測定光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段により前記被検査物の所定の同一層に照射される前記複数の測定光の照射位置の位置関係を変更する変更手段と、
前記変更手段により変更された前記位置関係で前記複数の測定光を走査する走査手段と、
前記走査手段により走査された前記複数の測定光に基づく前記被検査物の光干渉断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B3/10 R
, G01N21/17 625
2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF01
, 2G059JJ01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059JJ23
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059MM10
, 2G059PP04
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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