特許
J-GLOBAL ID:201103030808966972

半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 上柳 雅誉 ,  須澤 修
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-359135
公開番号(公開出願番号):特開2001-177048
特許番号:特許第3731420号
出願日: 1999年12月17日
公開日(公表日): 2001年06月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の半導体チップを接着剤で接着して多層化する工程と、 半導体チップにビアーをあける工程と、 ビアー内壁の接着剤を溶剤で除去して電極上面を露出する工程と、 半導体チップを加熱してビアー内壁に絶縁膜を形成する工程と、 ビアー内をエッチングして電極を露出する工程と、 半導体チップをメッキ槽に挿入してビアー内にメッキを充填して導電体を形成し、電極を電気的に接続する工程と、 からなることを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (3件):
H01L 25/18 ( 200 6.01) ,  H01L 25/07 ( 200 6.01) ,  H01L 25/065 ( 200 6.01)
FI (1件):
H01L 25/08 B
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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