特許
J-GLOBAL ID:201103031575421152
高速中性子の線量分布測定方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
戸川 公二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-047693
公開番号(公開出願番号):特開2011-185600
出願日: 2010年03月04日
公開日(公表日): 2011年09月22日
要約:
【課題】 加速器を用いた熱外(熱)中性子照射装置において、照射される熱外(熱)中性子に混入する高速中性子の角度分布および強度の測定を迅速かつ低コストで行える高速中性子の線量分布測定方法を提供すること。【解決手段】 ターゲットTのビーム照射点Pから陽子ビームBの進行方向に所定距離離れた位置に、中性子による核反応の閾値が0.1MeV以上の放射化箔F1を基準として設置すると共に、この基準とした放射化箔F1の鉛直方向、水平方向或いは斜め方向に、前記ビーム照射点Pを中心として一定距離、所定角度ごとに複数の放射化箔F2・F3...を円周上に配置して、前記中性子照射装置から中性子の照射を行った後、放射化箔F1・F2...中に生成された放射性物質から放出される所定エネルギーのγ線の強度を測定して高速中性子の角度分布及び強度を測定する点に特徴がある。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
加速器から陽子ビームBを導入するビームダクトDの出射部にターゲットT及び減速材Mを配置して成る中性子照射装置に対し、前記ターゲットTのビーム照射点Pから陽子ビームBの進行方向に所定距離離れた位置に、中性子による核反応の閾値が0.1MeV以上の放射化箔F1を基準として設置すると共に、この基準とした放射化箔F1の鉛直方向、水平方向或いは斜め方向に、前記ビーム照射点Pを中心として一定距離、所定角度ごとに複数の放射化箔F2・F3...を円周上に配置して、前記中性子照射装置から中性子の照射を行った後、放射化箔F1・F2...中に生成された放射性物質から放出される所定エネルギーのγ線の強度を測定して高速中性子の角度分布及び強度を測定することを特徴とする高速中性子の線量分布測定方法。
IPC (3件):
G01T 3/00
, G01T 1/29
, G21K 5/02
FI (3件):
G01T3/00 G
, G01T1/29 C
, G21K5/02 N
Fターム (4件):
2G088EE25
, 2G088FF04
, 2G088FF09
, 2G088FF14
引用特許:
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