特許
J-GLOBAL ID：201103033742811343
変位計測装置
発明者：
,
,
,
,
,
,
,
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (4件)：
牛木 護
, 吉田 正義
, 今枝 弘充
, 梅村 裕明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-071368
公開番号（公開出願番号）：特開2011-203150
出願日： 2010年03月26日
公開日（公表日）： 2011年10月13日
要約：
【課題】二平面を備える層の両方の面に局所的な変形が生じた場合にも、より正確に層間変位を計測することができる変位計測装置を提供する。【解決手段】変位計測装置1Aは、天井2から床3へ基準光LSを照射して基準変位を計測する基準変位計測部4と、天井2から床3へ基準光LSに対し所定角度α傾いた参照光LRを照射して参照変位を検出する参照変位計測部5とを備える。照射部6として拡散光を放射する光源が用いられている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1平面と、前記第1平面に対し所定間隔を隔てて設けられた第2平面とを備える層間の層間変位を、放射状に伝播する拡散光を用いて計測する変位計測装置であって、
前記第1平面から前記第2平面に向かって基準光を照射して、基準変位を検出する基準変位計測部と、
前記第1平面から前記第2平面に向かって前記基準光に対し所定角度傾いた参照光を照射して、参照変位を検出する参照変位計測部と
を備えることを特徴とする変位計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2F065AA20
, 2F065BB01
, 2F065BB13
, 2F065HH02
, 2F065HH12
, 2F065HH14
, 2F065LL04
, 2F065LL11
, 2F065QQ00
