特許
J-GLOBAL ID：201103034540294394

パターン検出装置、その処理方法及びプログラム

発明者：
舘 俊太

舘 俊太 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-223461
公開番号（公開出願番号）：特開2011-070602
出願日： 2009年09月28日
公開日（公表日）： 2011年04月07日
要約：
【課題】 繰り返しパターンの周期に揺らぎを含む物体や、繰り返しパターンに無関係な外乱を含む物体の画像であっても、当該繰り返しパターンにおける個々のパターンの位置を正確に検出できるようにした技術を提供する。【解決手段】 パターン検出装置は、繰り返しパターンを含む物体の画像を入力し、当該入力された物体における繰り返しパターンの周期を推定し、当該推定された周期で分割された画像に基づいて参照画像を生成する。そして、参照画像と、物体の画像とを比較し、比較の結果に基づいて繰り返しパターンにおける個々のパターンの位置を検出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
繰り返しパターンを含む物体の画像を入力する入力手段と、 前記入力手段により入力された前記物体における前記繰り返しパターンの周期を推定する推定手段と、 前記推定手段により推定された周期で分割された画像に基づいて参照画像を生成する生成手段と、 前記生成手段により生成された参照画像と、前記入力手段により入力された前記物体の画像とを比較する比較手段と、 前記比較手段による比較の結果に基づいて前記繰り返しパターンにおける個々のパターンの位置を検出するパターン検出手段と を具備することを特徴とするパターン検出装置。
IPC (3件)：
G06T 1/00 ,  G06T 7/00 ,  G01N 21/956
FI (3件)：
G06T1/00 300 ,  G06T7/00 300E ,  G01N21/956 Z
Fターム (23件)：
2G051AA65 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AC02 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G051EB01 ,  2G051ED01 ,  2G051ED04 ,  2G051ED11 ,  5B057AA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC08 ,  5B057DC34 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096HA07
引用特許：
審査官引用 (3件)

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