特許
J-GLOBAL ID:201103034636188900

回帰的対応点探索方法、これを利用した三次元位置計測方法、これらの装置、並びに、記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 光石 俊郎 ,  光石 忠敬 ,  田中 康幸
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-308482
公開番号(公開出願番号):特開2001-124519
特許番号:特許第3906615号
出願日: 1999年10月29日
公開日(公表日): 2001年05月11日
請求項(抜粋):
【請求項1】元画像の計測位置から参照画像のエピポーララインを設定し、元画像、参照画像、計測位置及び参照画像のエピポーララインから対応点を検出し、 元画像を参照画像に、参照画像を元画像に入れ換え設定し、 上記対応点を、計測位置(以降「計測位置(回帰)」と呼ぶ)として、入れ換え設定後の元画像に設定し、 計測位置(回帰)とカメラデータから入れ換え設定後の参照画像のエピポーララインを計算し、入れ換え設定後の元画像及び参照画像、並びに、計測位置(回帰)及び入れ換え設定後の参照画像のエピポーララインから対応点(以降「回帰対応点」と呼ぶ)を検出し、 計測位置と回帰対応点との距離(以降「回帰距離」と呼ぶ)を計算し、回帰距離を基に、上記対応点が適切か不適切か判断すること を特徴とする回帰的対応点探索方法。
IPC (4件):
G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G01C 3/06 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  G06T 7/60 ( 200 6.01)
FI (5件):
G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 110 V ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 7/60 150 B ,  G06T 7/60 180 B
引用特許:
出願人引用 (5件)
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