特許
J-GLOBAL ID：201103034646264460
回路基板検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-188337
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013192
特許番号：特許第4251722号
出願日： 1999年07月02日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検査対象の回路基板の一面に接触可能に配設された第1の検査用プローブと、所定厚みの絶縁層が表面に形成された平板状の電極を有し当該絶縁層を介して前記回路基板の他面に接触または近接可能に配設された静電容量測定用の電極部とを備えている回路基板検査装置において、
前記回路基板をほぼ直立させた状態で当該回路基板における上下方向および左右方向のいずれか一方向の両端部をそれぞれ挟持する第1の基板挟持機構および第2の基板挟持機構と、前記回路基板の他面に接触可能に配設された第2の検査用プローブとをさらに備えて、前記第1の検査用プローブと前記電極部とを用いての静電容量に基づく導通検査、および前記第1の検査用プローブと前記第2の検査用プローブとを用いての抵抗値測定による導通検査の両者を実行可能に構成され、前記第1の検査用プローブを前記回路基板の前記一面に接触させた状態で、前記電極部および前記第2の検査用プローブのいずれか選択された一方を前記回路基板の他面に向けて移動させて当該他面に接触させて所定の電気的検査を実行可能に構成されていることを特徴とする回路基板検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/02 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
, H05K 3/00 ( 200 6.01)
G01R 31/02
, G01R 31/28 K
, H05K 3/00 T
出願人引用 (7件)
-
特開昭59-168375
-
特開平1-287476
-
特開平2-062974
全件表示
審査官引用 (7件)
全件表示
前のページに戻る
