特許
J-GLOBAL ID：201103035119853771
金属試料中の非金属介在物組成及び/又は粒径の分析法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
植木 久一
, 小谷 悦司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-054690
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242144
特許番号：特許第3964594号
出願日： 2000年02月29日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
請求項（抜粋）：
【請求項1】金属試料から抽出した非金属介在物粒子を溶融ガラス表面に固定させた後、ガラスを凝固させた分析用試料の非金属介在物粒子にレーザー光を照射して、金属表面及び/又は内部に存在する非金属介在物の組成及び/又は粒径を、レーザー励起-ICP分析法により定量することを特徴とする非金属介在物の組成及び/又は粒径の分析法。
IPC (4件)：
G01N 27/62 ( 200 6.01)
, G01N 15/02 ( 200 6.01)
, G01N 21/73 ( 200 6.01)
, G01N 33/20 ( 200 6.01)
G01N 27/62 V
, G01N 15/02 D
, G01N 21/73
, G01N 33/20 J
