特許
J-GLOBAL ID：201103035438621379
布片表面の欠陥を検査する方法及び検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (5件)：
須藤 阿佐子
, 須藤 晃伸
, 矢野 俊史
, 須藤 阿佐子
, 須藤 晃伸
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-057376
公開番号（公開出願番号）：特開2000-329701
特許番号：特許第4473974号
出願日： 1999年03月04日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 シーツ、カバー等の布片の表面に光を当てて、表面からの反射光を撮像手段で捕らえた画像に基づき破損や汚れ等の欠陥を検査する、連続洗濯仕上加工における布片表面の欠陥を検査する方法において、
白色系帯と黒色系帯とを並べて構成した検査板を設け、検査板の板面上を布片を通過させた際の画像を撮像手段で捕らえて、検査板上での布片の表面の欠陥部分(4)に発生する色の変化を判断することによって布片表面の欠陥を検査する方法であって、
(a)欠陥部分が白色系帯および黒色系帯を通過する際に検査板の色が直接あらわれて色が変化するときは穴があいていると判定し、
(b)欠陥部分が白色系帯および黒色系帯を通過する際に色が実質的に変化しないときは撮像手段が捕らえた画像の光の強弱に基づき汚れであると判定する、
ことを特徴とする布片表面の欠陥を検査する方法。
IPC (4件)：
G01N 21/89 ( 200 6.01)
, D06F 93/00 ( 200 6.01)
, D06H 3/08 ( 200 6.01)
, G01B 11/30 ( 200 6.01)
G01N 21/89 Z
, D06F 93/00
, D06H 3/08
, G01B 11/30 A
