特許

J-GLOBAL ID：201103036167359912

X線回折及びコンピュータトモグラフィ

発明者： ガブリエル ブライェ
出願人/特許権者： パナリティカル ビー ヴィ
代理人 (3件)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-030013
公開番号（公開出願番号）：特開2011-169900
出願日： 2011年02月15日
公開日（公表日）： 2011年09月01日
要約：

【課題】X線回折(XRD)及びコンピュータトモグラフィ(CT)を組み合わせた装置及び方法に関する。【解決手段】イメージシステムは;X線ビームを放射するX線源と;2次元X線検出器と;試料位置;前記X線源、X線検出器及び試料を、前記試料位置でお互いに相対的に位置させるゴニオメーターと;前記2次元検出器からのインプットを処理し、前記2次元検出器からのインプットと、X線源、X線検出器及び試料の前記相対的位置に基づいて、試料の情報をアウトプットするコンピュータを含み;前記イメージシステムが、前記X線検出器を用いて回折角度2θの関数として、前記X線回折を測定して前記試料の角度分散X線回折を実行するX線回折モードで操作するように、及び試料の吸収を、2次元X線検出器を用いて前記試料に亘り位置の関数として試料の吸収を測定するコンピュータトモグラフィモードで操作するように、配置される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

イメージシステムであり: X線ビームを放射するX線源と; 2次元X線検出器と; 試料位置と; 前記X線源、X線検出器及び試料を、前記試料位置でお互いに相対的に位置させるゴニオメーターと; 前記2次元検出器からのインプットを処理し、前記2次元検出器からのインプットと、X線源、X線検出器及び試料の前記相対的位置に基づいて、試料の情報をアウトプットするコンピュータとを含み; 当該イメージシステムが、前記X線検出器を用いて回折角度2θの関数として、前記X線回折を測定して前記試料の角度分散X線回折を実行するX線回折モードで操作するように、及び試料の吸収を、2次元X線検出器を用いて前記試料に亘り位置の関数として試料の吸収を測定するコンピュータトモグラフィモードで操作するように、配置される、イメージシステム。

IPC (1件)：

G01N 23/20

FI (1件)：

G01N23/20

Fターム (4件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001FA05

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 2次元イメージ素子及びそれを利用した2次元イメージ検出装置並びにX線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-357915   出願人：株式会社リガク
• X線ホログラフィックCT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-004371   出願人：株式会社日立製作所
• X線回折顕微鏡装置およびX線回折顕微鏡装置によるX線回折測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-318922   出願人：独立行政法人物質・材料研究機構
• X線解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-091688   出願人：セイコー電子工業株式会社

審査官引用 (4件)

• 2次元イメージ素子及びそれを利用した2次元イメージ検出装置並びにX線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-357915   出願人：株式会社リガク
• X線ホログラフィックCT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-004371   出願人：株式会社日立製作所
• X線回折顕微鏡装置およびX線回折顕微鏡装置によるX線回折測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-318922   出願人：独立行政法人物質・材料研究機構
• X線解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-091688   出願人：セイコー電子工業株式会社

引用文献：

出願人引用 (1件)

• 「産業用X線CT技術の進展」

審査官引用 (1件)

• 「産業用X線CT技術の進展」