特許
J-GLOBAL ID:201103036320378816
化学機械研磨用水系分散体
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
小島 清路
, 萩野 義昇
, 谷口 直也
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-146666
公開番号(公開出願番号):特開2001-323256
特許番号:特許第4123685号
出願日: 2000年05月18日
公開日(公表日): 2001年11月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 無機砥粒と、アニオン基を有する有機粒子とを含有し、酸化ケイ素膜を研磨する速度が、窒化ケイ素膜を研磨する速度の5倍以上であり、pHが5〜12である化学機械研磨用水系分散体であって、
上記無機砥粒が、セリアであり、
上記有機粒子の平均粒子径は0.02〜0.7μmであることを特徴とする化学機械研磨用水系分散体。
IPC (3件):
C09K 3/14 ( 200 6.01)
, B24B 37/00 ( 200 6.01)
, H01L 21/304 ( 200 6.01)
FI (5件):
C09K 3/14 550 D
, C09K 3/14 550 Z
, B24B 37/00 H
, H01L 21/304 622 D
, H01L 21/304 622 X
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)