特許
J-GLOBAL ID：201103036443296350
塩素濃度測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
稲岡 耕作
, 川崎 実夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-037988
公開番号（公開出願番号）：特開2001-228115
特許番号：特許第3718400号
出願日： 2000年02月16日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 メッキ液中に含まれている塩素の濃度を測定する塩素濃度測定方法において、 (a)第1の塩素濃度である第1の較正用メッキ液中に作用電極及び基準電極を浸漬し、前記基準電極に対する前記作用電極の電圧を掃引して、前記作用電極に流れる第1の電流値を測定する工程と、 (b)前記第1の塩素濃度と異なる第2の塩素濃度である第2の較正用メッキ液中に前記作用電極及び前記基準電極を浸漬し、前記基準電極に対する前記作用電極の電圧を掃引して、前記作用電極に流れる第2の電流値を測定する工程と、 (c)前記第1の塩素濃度、前記工程(a)により測定された第1電流値、前記第2塩素濃度及び前記工程(b)により測定された第2の電流値に基づいて、較正曲線を求める工程と、 (d)塩素濃度が未知のメッキ液中に前記作用電極及び前記基準電極を浸漬し、前記基準電極に対する前記作用電極の電圧を掃引して、前記作用電極に流れる第3の電流値を測定する工程と、 (e)前記工程(c)により求められた較正曲線と前記工程(d)により測定された第3の電流値とに基づいて、前記塩素濃度が未知のメッキ液中の塩素濃度を測定する工程と、を有することを特徴とする塩素濃度測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/46 316 Z
, G01N 27/48 A
