測距装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：長谷川芳樹 , 塩田辰也 , 寺崎史朗
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-264108
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171689
特許番号：特許第3749639号
出願日： 1999年09月17日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
請求項（抜粋）：

【請求項1】測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記測距対象物までの距離に応じた位置検出素子上の受光位置で受光し、その受光位置に応じた信号を出力する受光手段と、前記受光手段から出力された信号に基づいて演算を行い、前記測距対象物までの距離に応じた信号を出力する演算手段と、積分コンデンサを有し、前記演算手段から出力された信号に応じて第1の基準電圧にある前記積分コンデンサを放電または充電して前記演算手段から出力された信号を積分し、その積分結果に応じた信号を出力する積分手段と、前記積分手段から出力された信号に基づいて前記測距対象物までの距離を検出する検出手段と、一連の測距動作の期間中の測距開始の際に前記積分コンデンサを前記第1の基準電圧またはそれ以上の電圧に充電する予充電期間に所定の計測を行う計測手段と、を備えており、前記計測手段は、電源電圧のチェックを行う電源電圧チェック手段を含むことを特徴とする測距装置。

IPC (5件)：

G02B 7/28 ( 200 6.01) , G01B 11/00 ( 200 6.01) , G01C 3/06 ( 200 6.01) , G02B 7/32 ( 200 6.01) , G03B 13/36 ( 200 6.01)

FI (5件)：

G02B 7/11 N , G01B 11/00 B , G01C 3/06 A , G02B 7/11 B , G03B 3/00 A

引用特許：

出願人引用 (7件)

半導体集積回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-313457 出願人：オリンパス光学工業株式会社
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-269171 出願人：オリンパス光学工業株式会社
アクティブ型測距装置を有するカメラ
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-067562 出願人：オリンパス光学工業株式会社

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審査官引用 (6件)

半導体集積回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-313457 出願人：オリンパス光学工業株式会社
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-269171 出願人：オリンパス光学工業株式会社
アクティブ型測距装置を有するカメラ
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-067562 出願人：オリンパス光学工業株式会社

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