特許
J-GLOBAL ID：201103041693079987
測定装置、測定方法、およびプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-265513
公開番号（公開出願番号）：特開2011-047914
出願日： 2009年11月20日
公開日（公表日）： 2011年03月10日
要約：
【課題】異常曲げが発生している異常箇所を迅速に特定する測定装置、測定方法、プログラムを提供する。【解決手段】光ファイバ芯線の入射端から入射された光に含まれる複数の波長のそれぞれについて、前記入射端からの距離が異なる複数の位置からの後方散乱光の光パワーを、前記入射端で測定する光パワー測定部と、前記光パワー測定部が測定した前記複数の波長のそれぞれについての前記光パワーと、前記複数の波長とを用いて、前記光ファイバ芯線の波長対損失特性を算出する特性算出部と、前記波長対損失特性の傾きと、前記複数の波長に応じて定められる損失基準値とを比較することで、予め定められた光損失より大きい光損失が発生している異常箇所を特定する異常箇所特定部とを備える。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
光ファイバ芯線の入射端から入射された光に含まれる複数の波長のそれぞれについて、前記入射端からの距離が異なる複数の位置からの後方散乱光の光パワーを、前記入射端で測定する光パワー測定部と、
前記光パワー測定部が測定した前記複数の波長のそれぞれについての前記光パワーと、前記複数の波長とを用いて、前記光ファイバ芯線の波長対損失特性を算出する特性算出部と、
前記波長対損失特性の傾きと、前記複数の波長に応じて定められる損失基準値とを比較することで、予め定められた光損失より大きい光損失が発生している異常箇所を特定する異常箇所特定部と、
を備える測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献：
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