半導体デバイス

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：龍華明裕
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-019390
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314766
特許番号：特許第4462692号
出願日： 2000年01月27日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】被測定回路と、前記被測定回路の動作を試験するために用いる試験パターンを生成するパターン生成回路と、前記試験パターンを前記被測定回路に与えた場合に前記被測定回路が生成する試験結果を出力するデータ出力端子と、前記試験に用いる周波数のクロックを生成して前記被測定回路へ与える発振器と、前記クロックの周波数を示す周波数情報を半導体デバイスの外部に出力するクロック出力端子と、前記発振器が発振する周波数を、外部からの設定を受けて、前記試験に用いるクロック周波数に制御する周波数制御手段と、を備えたことを特徴とする半導体デバイス。

IPC (3件)：